X荧光测硫仪采用X荧光能谱分析技术对各类样品中的硫含量进行快速测量。它具有无需进行样品前处理，直接对原始样品进行测量，一般只要100秒即可获得满意的分析结果，可以广泛地用于各类轻油、重油、原油、渣油、润滑油等石油产品的硫含量测量。
X荧光测硫仪的激发系统采用*的倒置直角光学结构设计。以5KV／0。5mA的低功率X射线发生器作为激发源，从X射线管产生的初级X射线直接激发样品。由高压发生器，X射线发生器等电子线路部分构成。
EDXRF与WDXRF主要区别在于样品中产生的元素荧光是经能量探测器直接探测能量还是经晶体对不同波长分光探测。单波长X射线荧光光谱仪是在X射线照射样品前进行X射线光的单色化处理，单色化的手段有依靠双曲面弯晶实现点到点（X射线管光斑点到样品点）聚焦衍射。
也有采用多层膜光学器件实现单色化衍射，获是采用二次靶技术实现靶材被激发产生的靶材特征荧光射线进一步照射样品。其优势是单色化激发降低了由于X射线管出射谱韧致辐射照射样品而产生的连续散射线背景干扰，获得较佳的元素荧光信号峰背比。
单色化激发技术有效降低光管出射谱散射线背景干扰，与硅漂移探测器相配合，将元素分析范围延伸至O和F。双曲面弯晶技术实现X射线点到点聚焦衍射，实现更高性能的微区分析，理论上聚焦点达到um级别。与显微镜组成高精度、高灵敏度（亚ppm）、高空间分辨率元素成像系统。
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