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X荧光测硫仪应用于样品涂镀层厚度及成分分析
发布时间:2022-09-02   点击次数:66次
  X荧光测硫仪是用于石油、煤、建材、冶金、采矿等工业的定量分析仪器,主要用于测量石油及其制品、煤、水泥、碳黑等材料中的全硫(S)的含量。由于它采用物理分析方法,具有分析速度快、无需复杂的样品预处理、精度高、人为误差小、操作工劳动强度低等特点,故已在国际上广泛应用并基本取代化学分析方法。
 
  X荧光测硫仪采用小型X光管做激发源,不含同位素放射源;采用薄窗充气正比计数管和特殊的光路系统,具有一体化、连续测量标准样法、分析时不接触不破坏样品、无需化学试剂、大屏幕中文显示、冷阴极背光液晶、人机对话方式操作、数据储存能力大、软件功能等优点。
 
  仪器工作时,样品被高温燃烧后,产生矿化效应,即硫元素被氧化生成SO2分子,通过UV荧光器,当激发态的SO2分子返回基态时,会发射UV光,可被光电子倍增检测器捕捉,可测量其含量。
 
  X射线荧光法,一直是元素分析的重要方法,同时也适用于样品涂镀层厚度及成分分析,比如:
 
  1、新能源/锂电:电池薄膜吸收层(如CIS,CIGS,CdTe)的成份分析,通过镀层厚度分析优化导电性能;
 
  2、贵金属、珠宝首饰:黄金分析,贵金属合金分析,珠宝镀层分析,铂金上的铑镀层分析;
 
  3、防腐涂层:涂层厚度及组分分析;
 
  4、装饰材料:装饰涂层分析;
 
  5、微电子、半导体:贴片电子元器件、太阳能电池、焊点、高精度感应芯片、柔性线路板、磁性介质的成分检测和RoHS指令合规检查;
 
  6、钢铁、五金电镀:钢材镀锌/铬、铝材镀锆/钛、哈式合金镀层厚度测定;
 
  7、电子电器:PCB印刷电路板,金手指及连接器上Au/Ni/Cu、Au/Pd/Ni/Cu厚度分析、可焊性能分析。

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