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极片污染对X荧光测硫仪的测量有什么影响?

时间: 2023-02-14  点击次数: 454次
  X荧光测硫仪主要用于测量石油及其制品(及其他液体)中S的含量,也能测量煤、碳黑等固体材料中的全硫(S)的含量。采用小型X光管做激发源,不含同位素放射源;采用薄窗充气正比计数管和特殊的光路系统。
 
  X荧光测硫仪具有一体化、连续测量标准样法、分析时不接触不破坏样品、无需化学试剂、大屏幕中文显示、冷阴背光液晶、人机对话方式操作、数据储存能力大、软件功能强等。
 
  X荧光测硫仪采用一次性样品杯,造价低,可避免样品交叉污染;样品制作快捷方便,不易泄露;采用单面膜样品杯,可在样品杯背面记录样品浓度、号码、日期等。
 
  X荧光测硫仪可以根据用户需要,将测量的原始数据,测量结果,测量报告存入软件内置数据库长期保存以便日后查看,避免用户繁琐的测量数据维护工作;测量结果也可以导出为谱图、word文档、excel表格,pdf文档等多种形式,由用户自行管理。
 
  利用X荧光强度比率,连续测参考样几次,取其平均值,在半小时内应用。含量分析时,就直接测待测样,这样既保证高的测量准确度,又缩短了待测样分析时间,还简化了分析操作步聚。
 
  因为X荧光测硫仪结果不稳定或偏低时常常因为极片的污染所致。在标定校准前期,一定检查极片的亮度,如果非常亮就表示干净无需清理,如果发淡黄,或者乌黑就要用小刀片刮亮(或者用乙醇擦拭)并检查通讯信号线是否导通。如果在极片被污染情况下标定,一定标定不准,徒劳无功。

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